• [1]

    Chadsey W I.X-Ray Dose Enhancement Vol. I:Summary Report,RADC -TR-76-159，ADAC262482 LAI Z. W .Radiation Hardening Electronics-Radiation Effects and Hardening Techniques, Beijing:National Defense Industry Press,1998(in Chinese)(赖祖武.抗辐射电子学一辐射效应及加固原理.北京:国防工业出版社，1998)3 Experimental Method of Atomic Nuclear Physics(in Chinese)(复旦大学，清华大学，北京大学，原子核物理实验方法，原子能出版社，1996)4 GUO H X, CHEN Y S, ZH}1NG Y M et al. Acta Physica Sinica，2001，50(8):1545一1548(in Chinese)(郭红霞，陈雨生，张义门等.物理学报，2001 , 50 ( 8 ) , 1545-1548)5 GUO H X，CHEN Y S, ZHANG Y M et al. Acta Physica Sinica.，2001，50(12):2279-2283(in Chinese)(郭红霞，陈雨生，张义门等.物理学报，2001 , 50 ( 12 ) , 2279-2283)6 GUO H X，CHEN Y S, ZHANG Y M et al. Acta Physica Sinica, 2002, 51(10)，;2315-2319(in Chinese)(郭红霞，陈雨生，张义门等.物理学报，2002, 51 (10 ) ; 2315-2319)7 Beutle D E. IEEE Trans. Nuc. Sci.，1990,37(6);1541-15468 XIE Y N，LUO J,TAO Y et al. HEPNP,2001,25(Supp.):7-11(in Chinese)(谢亚宁，骆军，陶冶等.高能物理与核物理，2001，25(增刊);7-11)9 GUO H X, CHEN Y S, ZHANG Y M et al. HEPNP,2001,25(Supp.):I-6(in Chinese)(郭红霞，陈雨生，张义门等.高能物理与核物理,2001,25(增刊):1-6)10 HE C H .Nuclear Electronics and Detection Technology, 2000，20;115-120(in Chinese)(贺朝会.核电子学与探测技术，2000,20;115-120)11 Wrobel T F. IEEE Trans. Nuc. Sci.，1989,36(6);2241-2247